Точечные дефекты в полупроводниках. Теория

dc.contributor.author	Ланно М., Бургуэн Ж.
dc.date.accessioned	2016-02-21T16:24:32Z
dc.date.available	2016-02-21T16:24:32Z
dc.date.issued	1984
dc.identifier.isbn
dc.identifier.issn
dc.identifier.uri	http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/32528
dc.description.abstract
dc.language.iso	Russian
dc.publisher
dc.subject	Техника\\Электроника
dc.subject	Technique\\Electronics
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.title	Точечные дефекты в полупроводниках. Теория
dc.type	other
dc.identifier.aich	N4RPWMC62MC54VGK52RTRG2QCQFT3RC5
dc.identifier.crc32	4FC27929
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey	523E5D7654B586A418A0D2A29E693DFD
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryid
dc.identifier.udk
dc.identifier.bbk
dc.identifier.libgenid	310925
dc.identifier.md5	14A701E0DE53581D489D9C335A0AC650
dc.identifier.sha1	XGH2HYZNG4OBONKMG5KQN4NBWYVMECWH
dc.identifier.tth	GCFYLL4LFJUY43MQL2WGHKCAYNAPFNTNIFO5W2Y