| dc.contributor.author | Зандерна А. (ред.) | |
| dc.date.accessioned | 2016-02-21T17:23:23Z | |
| dc.date.available | 2016-02-21T17:23:23Z | |
| dc.date.issued | 1979 | |
| dc.identifier.isbn | | |
| dc.identifier.issn | | |
| dc.identifier.uri | http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/33739 | |
| dc.description.abstract | Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела. Дается общая классификация этих методов, и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спектроскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия и полевая масс-спектрометрия.Предназначена для широкого круга научных работников - физиков и химиков, металловедов и материаловедов, инженеров и технологов, а также для преподавателей вузов и студентов со┐ответствующих специальностей. | |
| dc.language.iso | Russian | |
| dc.publisher | Мир | |
| dc.subject | Математика\\Анализ | |
| dc.subject | Mathematics\\Analysis | |
| dc.subject.ddc | | |
| dc.subject.lcc | | |
| dc.title | Методы анализа поверхностей | |
| dc.type | other | |
| dc.identifier.aich | QW6NAFTUNQQ4P55ABDUYM3FWSWCEUQU5 | |
| dc.identifier.crc32 | DC81FB9F | |
| dc.identifier.doi | | |
| dc.identifier.edonkey | 510F8F722DE3A89E573E6823E693A063 | |
| dc.identifier.googlebookid | | |
| dc.identifier.openlibraryid | | |
| dc.identifier.udk | | |
| dc.identifier.bbk | | |
| dc.identifier.libgenid | 17939 | |
| dc.identifier.md5 | 1BD3AA658434CA37FD62C01A8DD16E62 | |
| dc.identifier.sha1 | QXK33TCKEF4CXKXRLSUPCZJ4Y7IAGW47 | |
| dc.identifier.tth | VS6PM4AJ3XZTOE4QYOQFYJLXS6BATLR5Y4QSMZQ | |
