Show simple item record

Основы анализа поверхности и тонких пленок

dc.contributor.authorФелдман Л., Майер Д.
dc.date.accessioned2016-02-21T17:28:25Z
dc.date.available2016-02-21T17:28:25Z
dc.date.issued1989
dc.identifier.isbn0-444-00989-2,5-03-001017-3
dc.identifier.issn
dc.identifier.urihttp://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/33848
dc.description.abstract
dc.language.isoRussian
dc.publisherХимия
dc.subjectМатематика\\Анализ
dc.subjectMathematics\\Analysis
dc.subject.ddc530.4/1
dc.subject.lccQD506 .F39 1986
dc.titleОсновы анализа поверхности и тонких пленок
dc.typeother
dc.identifier.aichWBG2ZNHKPIQCJYY5WOCXKMJMTPQEA6MI
dc.identifier.crc323FEA62DA
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey3AF62C9D8B2E6240FC8956E6EE617AC4
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryidOL2709820M
dc.identifier.udk
dc.identifier.bbk
dc.identifier.libgenid105585
dc.identifier.md51D9E4236F5F7D414BCC24E3D1A609F45
dc.identifier.sha1SL3ZB2RTKW3QRYJOXROEF7544FQAPFF7
dc.identifier.tthBM7J65GW6BSPRDZMARQK7H7QY24ITXFO2LOBSWQ


Files in this item

Thumbnail
Name:
1d9e4236f5f7d414bcc24e3d1a609f ...
Size:
3.374Mb
Format:
Unknown
View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record