| dc.contributor.author | Н.П.Байда, И.В.Кузьмин, В.Т.Шпилевой | |
| dc.date.accessioned | 2016-02-21T18:25:26Z | |
| dc.date.available | 2016-02-21T18:25:26Z | |
| dc.date.issued | 1987 | |
| dc.identifier.isbn | | |
| dc.identifier.issn | | |
| dc.identifier.uri | http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/35033 | |
| dc.description.abstract | Рассмотрены вопросы проектирования и применения микропроцессорных систем тестового поэлементного диагностирования (СПД) и контроля радиоэлектронной аппаратуры и микросборок. Анализируются дефекты и даются рекомендации по их эффективному обнаружению. Изложена методика автоматизированного получения рабочих программ поэлементного диагностирования. Приведены конкретные технические решения ряда устройств СПД.Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и эксплуатацией систем контроля и диагностирования. | |
| dc.language.iso | Russian | |
| dc.publisher | Радио и связь | |
| dc.subject | | |
| dc.subject | | |
| dc.subject.ddc | | |
| dc.subject.lcc | | |
| dc.title | Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования РАЭ | |
| dc.type | other | |
| dc.identifier.aich | 2BPZBNOSP2OFAL3HMEYUK7VQSDL27VSN | |
| dc.identifier.crc32 | 583C0925 | |
| dc.identifier.doi | | |
| dc.identifier.edonkey | 892D7862D60F3106287C9BB563A4BE49 | |
| dc.identifier.googlebookid | | |
| dc.identifier.openlibraryid | | |
| dc.identifier.udk | | |
| dc.identifier.bbk | | |
| dc.identifier.libgenid | 1269959 | |
| dc.identifier.md5 | 20d5e91c468661faa737c4fa71fa44f9 | |
| dc.identifier.sha1 | BVQWC7IJ65YRWWYTRR6KTNHN6AXVFMUU | |
| dc.identifier.tth | UEKBN3DKQU66ICQKJJDVRQ5BZ76W2D3O3HEEUAQ | |
