| dc.contributor.author | Родерик Э. X. | |
| dc.date.accessioned | 2016-02-21T22:17:10Z | |
| dc.date.available | 2016-02-21T22:17:10Z | |
| dc.date.issued | 1982 | |
| dc.identifier.isbn | 978-965-7146-08-8 | |
| dc.identifier.issn | | |
| dc.identifier.uri | http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/39352 | |
| dc.description.abstract | Подробно рассмотрены физические явления в контактах металл — полупроводник, методы и результаты исследования характеристик и параметров, технология создания контактов. Приведены справочные данные по параметрам контактов различных металлов с большой группой полупроводников. Некоторые -разделы посвящены барьерам Шоттки с глубокими ловушками и использованию барьеров Шоттки для определения параметров полупроводников.Предназначена для инженеров-физиков и технологов, занимающихся исследованием и созданием полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. | |
| dc.language.iso | Russian | |
| dc.publisher | | |
| dc.subject | Техника\\Металлургия | |
| dc.subject | Technique\\Metallurgy | |
| dc.subject.ddc | | |
| dc.subject.lcc | | |
| dc.title | Контакты металл — полупроводник | |
| dc.type | other | |
| dc.identifier.aich | EEY4I6OFTJHPIPU4AWDKWZUJULGRCMVI | |
| dc.identifier.crc32 | E5EAAC96 | |
| dc.identifier.doi | | |
| dc.identifier.edonkey | 8FDF2E49BF8B6C74071C60F72F2BDEC1 | |
| dc.identifier.googlebookid | | |
| dc.identifier.openlibraryid | | |
| dc.identifier.udk | | |
| dc.identifier.bbk | | |
| dc.identifier.libgenid | 1260860 | |
| dc.identifier.md5 | 35feebd93efcd82b0272924fd99a4d4b | |
| dc.identifier.sha1 | UKQX7FVPGRDFAHKARFO6GLTQOFRXUB7I | |
| dc.identifier.tth | RDWPDL5PPA4DA2YMKOM3WXLEPRPTURLT4SMUZ4Y | |
