Show simple item record

dc.contributor.authorАгаханян Т.М.
dc.date.accessioned2016-02-22T14:13:44Z
dc.date.available2016-02-22T14:13:44Z
dc.date.issued1974
dc.identifier.isbn3-540-64720-1,0-471-96340-2
dc.identifier.issn
dc.identifier.urihttp://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/57083
dc.description.abstractДается описание электронных процессов в полупроводниковых кристаллах. Исследуются импульсные и статические характеристика электронно-дырочного перехода с учётом влияния токов генерации и рекомбинации в переходном слое, канальных токов и токов утечки.
dc.language.isoRussian
dc.publisherЭнергия
dc.subjectТехника\\Электроника
dc.subjectTechnique\\Electronics
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.titleОсновы транзисторной электроники
dc.typeother
dc.identifier.aich36AT7JKRN3RKIILUZN67LC34ZV7I6BTB
dc.identifier.crc32AEE16401
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey8F231B0BB9A18909965F673810B440A8
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryid
dc.identifier.udk621.382.3
dc.identifier.bbk
dc.identifier.libgenid1253424
dc.identifier.md589e21252be3884c8bdeaa0cdffa33251
dc.identifier.sha1U2VH7RP664O5KAGGLMCERW4BCD74H4EM
dc.identifier.tthWF6QIRJHNOBJAVD5OWD7NAD4QBEQYI2KW7V2G3Q


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record