Show simple item record

dc.contributor.authorЦветков Э. И.
dc.date.accessioned2016-02-22T15:51:26Z
dc.date.available2016-02-22T15:51:26Z
dc.date.issued1986
dc.identifier.isbn
dc.identifier.issn
dc.identifier.urihttp://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/59017
dc.description.abstractРассмотрены основы теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Представлены методы определения погрешностей и их характеристик. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Первое издание вышло в 1979 г. Книга рассчитана на специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники.
dc.language.isoRussian
dc.publisherЭнергоатомиздат
dc.subject
dc.subject
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.titleОсновы теории статистических измерений
dc.typeother
dc.identifier.aichM7REV3RLXRD6GGM72LFE7PXDWBSHESCF
dc.identifier.crc322853A53D
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey7FC6B1CF89B52794EA4CF229D59EF426
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryid
dc.identifier.udk
dc.identifier.bbk
dc.identifier.libgenid1271070
dc.identifier.md5933649938f36171dc7aeb09f89b4baac
dc.identifier.sha1HJXTFGG5FMJWEU5HXKTCJYXIF7V6P4AX
dc.identifier.tthQBJ3XGGKKGGLL2PHAE5LXBZ2PSWKGYGM7MVXOSI


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record