Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках

dc.contributor.author	Бонч-Бруевич В.Л., Звягин И.П., Миронов А.Г.
dc.date.accessioned	2016-03-23T23:26:59Z
dc.date.available	2016-03-23T23:26:59Z
dc.date.issued	1972
dc.identifier.isbn
dc.identifier.issn
dc.identifier.uri	http://libarch.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/66991
dc.description.abstract
dc.language.iso	Russian
dc.publisher	Наука
dc.subject	Техника\\Электроника
dc.subject	Technique\\Electronics
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.title	Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках
dc.type	other
dc.identifier.aich	GGGC5SCKFJXNIP63J7IW6JF7DU4HXQL6
dc.identifier.crc32	85C4104C
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey	47E600D5F750937FB92196AA6CA02E3C
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryid
dc.identifier.udk
dc.identifier.bbk
dc.identifier.libgenid	17915
dc.identifier.md5	EF2D0802D8E9F6EFECC4CCD24DE69192
dc.identifier.sha1	IKOXE6ROQR5454QA6ZRLD3F57GKL72HC
dc.identifier.tth	Q44BGG2KU6ANJRDJARHXEOW6AIDBFOC5522YDFI