| dc.contributor.author | Н.П.Байда, И.В.Кузьмин, В.Т.Шпилевой. | |
| dc.date.accessioned | 2016-03-24T12:56:52Z | |
| dc.date.available | 2016-03-24T12:56:52Z | |
| dc.date.issued | 1987 | |
| dc.identifier.isbn | | |
| dc.identifier.issn | | |
| dc.identifier.uri | http://libarch.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/76766 | |
| dc.description.abstract | Аннотация издательства: Рассмотрены вопросы проектирования и применения микропроцессорных систем тестового поэлементного диагностирования (СПД) и контроля радиоэлектронной аппаратуры и микросборок. Анализируются дефекты и даются рекомендации по их эффективному обнаружению. Изложена методика автоматизированного получения рабочих программ поэлементного диагностирования Приведены конкретные технические решения ряда устройств СПД. Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и эксплуатацией систем контроля и диагностирования. | |
| dc.language.iso | Russian | |
| dc.publisher | Радио и связь | |
| dc.subject | Техника | |
| dc.subject | Technique | |
| dc.subject.ddc | | |
| dc.subject.lcc | | |
| dc.title | Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования РЭА. Производственное издание | |
| dc.type | other | |
| dc.identifier.aich | YI7ABWQ4PVY6MGMCUDIBM6IG4UEDVYRZ | |
| dc.identifier.crc32 | AA916389 | |
| dc.identifier.doi | | |
| dc.identifier.edonkey | 1327232A2C932E8AD5B2097F5EB55093 | |
| dc.identifier.googlebookid | | |
| dc.identifier.openlibraryid | | |
| dc.identifier.udk | | |
| dc.identifier.bbk | | |
| dc.identifier.libgenid | 1213688 | |
| dc.identifier.md5 | deb3727a92831afc72d1d6570e97a646 | |
| dc.identifier.sha1 | DF3JQWJSBQOI6PT4H3JCXUGYFTGEAROY | |
| dc.identifier.tth | EVVKEGBTCGBA6XUHQNJN4GOVOVTSB5NY5MCUMZA | |
