Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках

dc.contributor.author	Вавилов В.С., Кив А.Е., Ниязова О.Р.
dc.date.accessioned	2016-03-24T14:01:02Z
dc.date.available	2016-03-24T14:01:02Z
dc.date.issued	1981
dc.identifier.isbn
dc.identifier.issn
dc.identifier.uri	http://libarch.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/78127
dc.description.abstract
dc.language.iso	Russian
dc.publisher
dc.subject	Техника\\Электроника
dc.subject	Technique\\Electronics
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.title	Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
dc.type	other
dc.identifier.aich	2F26P5RKF6AQN6ZNHDSAOH6HJ5A67BMT
dc.identifier.crc32	E2D43998
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey	E652DD8D2EC3052B5AB2EA828D3B5C46
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryid
dc.identifier.udk
dc.identifier.bbk
dc.identifier.libgenid	1246609
dc.identifier.md5	e8164089d420db8a0250149850e82333
dc.identifier.sha1	4DBIGVWYODQ43H4346GQ7SUEJD64THIW
dc.identifier.tth	LS52HSUW3PDN3UWWWZQWVE542ESWZBMG3D6QCMI