Показати скорочений опис матеріалу

dc.contributor.authorЛанно М., Бургуэн Ж.
dc.date.accessioned2016-02-21T16:24:32Z
dc.date.available2016-02-21T16:24:32Z
dc.date.issued1984
dc.identifier.isbn
dc.identifier.issn
dc.identifier.urihttp://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/32528
dc.description.abstract
dc.language.isoRussian
dc.publisher
dc.subjectТехника\\Электроника
dc.subjectTechnique\\Electronics
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.titleТочечные дефекты в полупроводниках. Теория
dc.typeother
dc.identifier.aichN4RPWMC62MC54VGK52RTRG2QCQFT3RC5
dc.identifier.crc324FC27929
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey523E5D7654B586A418A0D2A29E693DFD
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryid
dc.identifier.udk
dc.identifier.bbk
dc.identifier.libgenid310925
dc.identifier.md514A701E0DE53581D489D9C335A0AC650
dc.identifier.sha1XGH2HYZNG4OBONKMG5KQN4NBWYVMECWH
dc.identifier.tthGCFYLL4LFJUY43MQL2WGHKCAYNAPFNTNIFO5W2Y


Долучені файли

Thumbnail

Даний матеріал зустрічається у наступних фондах

Показати скорочений опис матеріалу