Показати скорочений опис матеріалу

dc.contributor.authorБонч-Бруевич В.Л. и др.
dc.date.accessioned2016-02-22T00:23:05Z
dc.date.available2016-02-22T00:23:05Z
dc.date.issued1972
dc.identifier.isbn
dc.identifier.issn
dc.identifier.urihttp://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/41588
dc.description.abstract
dc.language.isoRussian
dc.publisher
dc.subjectТехника\\Электроника
dc.subjectTechnique\\Electronics
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.titleДоменная неустойчивость в полупроводниках
dc.typeother
dc.identifier.aichU6XVYHTVOHMTCMWBXW4D2CLZNOYCGFZC
dc.identifier.crc32CF84ABD9
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey45309620426B964AAB76A70130916222
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryid
dc.identifier.udk
dc.identifier.bbk
dc.identifier.libgenid1217772
dc.identifier.md5410d7745259df5bdc31af3c83a8ff0ee
dc.identifier.sha142CO5DOAFYVCYC4UYJDG3YN5JHTIRSRZ
dc.identifier.tthMI6X3Y2A5UEQNDMADLPIK7VTETBQF5PEBDILEWY


Долучені файли

Thumbnail

Даний матеріал зустрічається у наступних фондах

Показати скорочений опис матеріалу