Показати скорочений опис матеріалу
Основы теории статистических измерений
dc.contributor.author | Цветков Э. И. | |
dc.date.accessioned | 2016-02-22T15:51:26Z | |
dc.date.available | 2016-02-22T15:51:26Z | |
dc.date.issued | 1986 | |
dc.identifier.isbn | ||
dc.identifier.issn | ||
dc.identifier.uri | http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/59017 | |
dc.description.abstract | Рассмотрены основы теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Представлены методы определения погрешностей и их характеристик. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Первое издание вышло в 1979 г. Книга рассчитана на специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники. | |
dc.language.iso | Russian | |
dc.publisher | Энергоатомиздат | |
dc.subject | ||
dc.subject | ||
dc.subject.ddc | ||
dc.subject.lcc | ||
dc.title | Основы теории статистических измерений | |
dc.type | other | |
dc.identifier.aich | M7REV3RLXRD6GGM72LFE7PXDWBSHESCF | |
dc.identifier.crc32 | 2853A53D | |
dc.identifier.doi | ||
dc.identifier.edonkey | 7FC6B1CF89B52794EA4CF229D59EF426 | |
dc.identifier.googlebookid | ||
dc.identifier.openlibraryid | ||
dc.identifier.udk | ||
dc.identifier.bbk | ||
dc.identifier.libgenid | 1271070 | |
dc.identifier.md5 | 933649938f36171dc7aeb09f89b4baac | |
dc.identifier.sha1 | HJXTFGG5FMJWEU5HXKTCJYXIF7V6P4AX | |
dc.identifier.tth | QBJ3XGGKKGGLL2PHAE5LXBZ2PSWKGYGM7MVXOSI |
Долучені файли
Даний матеріал зустрічається у наступних фондах
-
Libgen [81666]