Mostrar el registro sencillo del ítem

dc.contributor.authorД.Вудраф, Т.Делчар. Перевод с английского Е.Ф.Шека Под редакцией В.И.Раховского.
dc.date.accessioned2016-03-23T23:41:23Z
dc.date.available2016-03-23T23:41:23Z
dc.date.issued1989
dc.identifier.isbn0-521-30602-7
dc.identifier.issn
dc.identifier.urihttp://libarch.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/67175
dc.description.abstractАннотация издательства: В книге английских ученых излагаются физические основы более двадцати современных методов исследования поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т.д.). Дается сравнение и сопоставление методов друг с другом в зависимости от исследуемой проблемы физики поверхности. Для студентов и аспирантов физических, химических и материаловедческих специальностей, и также для широкого круга исследователей в области физики поверхности.
dc.language.isoRussian
dc.publisherМир. Редакция литературы по физике и астрономии
dc.subjectФизика
dc.subjectPhysics
dc.subject.ddc541.3/453
dc.subject.lccQC173.4.S94 W66 1986
dc.titleСовременные методы исследования поверхности. Научное издание
dc.typeother
dc.identifier.aich32EFVCYGD25L6WUKPE7YUTEM2XPAHYF6
dc.identifier.crc32D8A55ED5
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkeyE848010085AB71F9C16A6EF440768196
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryidOL2530373M
dc.identifier.udk
dc.identifier.bbk
dc.identifier.libgenid49650
dc.identifier.md5F249378BD412767C95ECC01D548FB1D9
dc.identifier.sha1J5GMCO5SQHYBXQR7DRZXFW5H4CX7N4BD
dc.identifier.tthUG42LBRJJAGMUQFSLUAM746LRHMU4MQ7BIEVD5Y


Ficheros en el ítem

Thumbnail

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

Mostrar el registro sencillo del ítem