dc.contributor.author | Вайнштейн Б.К. (ред) | |
dc.date.accessioned | 2016-03-24T16:09:45Z | |
dc.date.available | 2016-03-24T16:09:45Z | |
dc.date.issued | 1979 | |
dc.identifier.isbn | | |
dc.identifier.issn | | |
dc.identifier.uri | http://libarch.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/80701 | |
dc.description.abstract | Настоящий том посвящен учению о симметрии кристаллов, которое является теоретической основой кристаллографии, и изложению методов анализа атомной структуры кристаллов.Вначале вводятся основные понятия кристаллографии, рассматриваются общие характеристики кристаллического состояния вещества - макроскопические и микроскопические (определяемые решетчатым строением). Учение о симметрии излагается па основе теории групп. Анализируются точечные группы симметрии, группы стержней и слоев, пространственные группы. Рассматриваются обобщения симметрии: антисимметрия и цветная симметрия. Дается геометрическая теория описания конечного кристалла и кристаллической решетки.Изложены физические принципы и основы математического аппарата структурного анализа кристаллов. Описаны методы изучения атомного строения кристаллического вещества: рентгеноструктурный анализ, электронография, нейтронография, электронная микроскопия. | |
dc.language.iso | Russian | |
dc.publisher | | |
dc.subject | Физика\\Кристаллофизика | |
dc.subject | Physics\\Crystal Physics | |
dc.subject.ddc | | |
dc.subject.lcc | | |
dc.title | Современная кристаллография | |
dc.type | other | |
dc.identifier.aich | HFBPATK5MKY4BZZWJTOQWZVU3RJRFU76 | |
dc.identifier.crc32 | 558FAD4E | |
dc.identifier.doi | | |
dc.identifier.edonkey | 36E93BF046829AAD848CADF700E3EB51 | |
dc.identifier.googlebookid | | |
dc.identifier.openlibraryid | | |
dc.identifier.udk | | |
dc.identifier.bbk | | |
dc.identifier.libgenid | 920445 | |
dc.identifier.md5 | f9ad11f6eac1ea1b41ba2eaf8d29b31b | |
dc.identifier.sha1 | CQ3FOKCQOWKZ5BJF42BODOCDH3TZRRQH | |
dc.identifier.tth | 2P76IWZ5VOT7P7ODER4RODRDBLTFAGZCOND3GSQ | |