dc.contributor.author | Миленко Н.П., Сердюк А.В. | |
dc.date.accessioned | 2016-02-21T13:26:24Z | |
dc.date.available | 2016-02-21T13:26:24Z | |
dc.date.issued | 1974 | |
dc.identifier.isbn | | |
dc.identifier.issn | | |
dc.identifier.uri | http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/28905 | |
dc.description.abstract | В книге рассмотрены теоретические основы моделирования испытаний ЖРД, прогонзирования параметров и характеристик их надежности, а также описаны модели ускоренных испытаний, которые в целом ряде случаев могут быть применены и для других механических систем. Изложены методы построения математических моделей на основе выбора рационального вида аппроксимирующих функций, методологические и теоретические вопросы прогнозирования результатов испытаний в многофакторном плане. Представлены решения отдельных задач по прогнозированию параметров и характеристик надежности систем на основе количественной и качественной информации, а также решения конкретных задач прикладного характера.
Книга предназначается для инженерно-технических работников и научных сотрудников, занимающихся вопросами испытаний ракетной и авиационной техники. Книга может быть полезной также предподавателям, аспирантам и студентам технических вузов.
Табл. 20. Ил. 36. Список лит. 43 назв. | |
dc.language.iso | Russian | |
dc.publisher | Машиностроение | |
dc.subject | Техника\\Ракетная техника | |
dc.subject | Technique\\Missiles | |
dc.subject.ddc | | |
dc.subject.lcc | | |
dc.title | Моделирование испытаний ЖРД | |
dc.type | other | |
dc.identifier.aich | LKEFZNESCHYDLWXXMFKYX4QVXV6WF62P | |
dc.identifier.crc32 | A54A10BB | |
dc.identifier.doi | | |
dc.identifier.edonkey | AEB4629F63EA58E839C02BC8BFC6B8E5 | |
dc.identifier.googlebookid | | |
dc.identifier.openlibraryid | | |
dc.identifier.udk | 629.7.036.54.063.6 | |
dc.identifier.bbk | | |
dc.identifier.libgenid | 880664 | |
dc.identifier.md5 | 03ca74ccb89aa627ec7bc08712197054 | |
dc.identifier.sha1 | ZZLEBTSKOEK7DTVLUS4EASPBISLVQGE7 | |
dc.identifier.tth | Q4J6MADVARIMY5DD4LTAGKHQO6BQLMWAJCSYIPI | |