Доменная неустойчивость в полупроводниках

dc.contributor.author	Бонч-Бруевич В.Л. и др.
dc.date.accessioned	2016-02-22T00:23:05Z
dc.date.available	2016-02-22T00:23:05Z
dc.date.issued	1972
dc.identifier.isbn
dc.identifier.issn
dc.identifier.uri	http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/41588
dc.description.abstract
dc.language.iso	Russian
dc.publisher
dc.subject	Техника\\Электроника
dc.subject	Technique\\Electronics
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.title	Доменная неустойчивость в полупроводниках
dc.type	other
dc.identifier.aich	U6XVYHTVOHMTCMWBXW4D2CLZNOYCGFZC
dc.identifier.crc32	CF84ABD9
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey	45309620426B964AAB76A70130916222
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryid
dc.identifier.udk
dc.identifier.bbk
dc.identifier.libgenid	1217772
dc.identifier.md5	410d7745259df5bdc31af3c83a8ff0ee
dc.identifier.sha1	42CO5DOAFYVCYC4UYJDG3YN5JHTIRSRZ
dc.identifier.tth	MI6X3Y2A5UEQNDMADLPIK7VTETBQF5PEBDILEWY