Mostra i principali dati dell'item
Модели надежности и чувствительности систем
dc.contributor.author | Райншке К. | |
dc.date.accessioned | 2016-02-22T09:20:06Z | |
dc.date.available | 2016-02-22T09:20:06Z | |
dc.date.issued | 1979 | |
dc.identifier.isbn | ||
dc.identifier.issn | ||
dc.identifier.uri | http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/51353 | |
dc.description.abstract | Книга посвящена оценке надежности сложных технических систем. В ней обсуждаются общие модели систем, применение полумарковских процессов для анализа надежности, устойчивость систем, описываемых линейными алгебраическими или интегродифференциальными уравнениями. Подробно рассматриваются функции параметрической чувствительности характеристик системы и методы их определения, развивается метод оценки надежности систем по параметрическим отказам. Приводятся основные ограничения применения общих методов и моделей анализа надежности на практике.Адресована всем, кто интересуется теоретическими вопросами надежности: электро- и радиоинженерам, специалистам по информационной технике, горным инженерам, физикам и математикам. | |
dc.language.iso | Russian | |
dc.publisher | Мир | |
dc.subject | ||
dc.subject | ||
dc.subject.ddc | ||
dc.subject.lcc | ||
dc.title | Модели надежности и чувствительности систем | |
dc.type | other | |
dc.identifier.aich | FN2G6K6P7B47OSGOVED46RSK5PLZVFAV | |
dc.identifier.crc32 | 46C63BC4 | |
dc.identifier.doi | ||
dc.identifier.edonkey | 6D8DF79FAB1D0DCA73EE6686633A4123 | |
dc.identifier.googlebookid | ||
dc.identifier.openlibraryid | ||
dc.identifier.udk | ||
dc.identifier.bbk | ||
dc.identifier.libgenid | 1264631 | |
dc.identifier.md5 | 6e654fc446df4247e9b4820c77d52e3d | |
dc.identifier.sha1 | WBINAZAJFGU5RLGAGVSTAJCWCHJHXBLE | |
dc.identifier.tth | GA33XKPMV6PMDWSGYXYLGJ3HCM6P6SCALPY4REA |
Files in questo item
Questo item appare nelle seguenti collezioni
-
Libgen [81666]