Показать сокращенную информацию

dc.contributor.authorРайншке К.
dc.date.accessioned2016-02-22T09:20:06Z
dc.date.available2016-02-22T09:20:06Z
dc.date.issued1979
dc.identifier.isbn
dc.identifier.issn
dc.identifier.urihttp://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/51353
dc.description.abstractКнига посвящена оценке надежности сложных технических систем. В ней обсуждаются общие модели систем, применение полумарковских процессов для анализа надежности, устойчивость систем, описываемых линейными алгебраическими или интегродифференциальными уравнениями. Подробно рассматриваются функции параметрической чувствительности характеристик системы и методы их определения, развивается метод оценки надежности систем по параметрическим отказам. Приводятся основные ограничения применения общих методов и моделей анализа надежности на практике.Адресована всем, кто интересуется теоретическими вопросами надежности: электро- и радиоинженерам, специалистам по информационной технике, горным инженерам, физикам и математикам.
dc.language.isoRussian
dc.publisherМир
dc.subject
dc.subject
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.titleМодели надежности и чувствительности систем
dc.typeother
dc.identifier.aichFN2G6K6P7B47OSGOVED46RSK5PLZVFAV
dc.identifier.crc3246C63BC4
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey6D8DF79FAB1D0DCA73EE6686633A4123
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryid
dc.identifier.udk
dc.identifier.bbk
dc.identifier.libgenid1264631
dc.identifier.md56e654fc446df4247e9b4820c77d52e3d
dc.identifier.sha1WBINAZAJFGU5RLGAGVSTAJCWCHJHXBLE
dc.identifier.tthGA33XKPMV6PMDWSGYXYLGJ3HCM6P6SCALPY4REA


Файлы в этом документе

Thumbnail

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию