Mostra i principali dati dell'item
Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках
dc.contributor.author | Бонч-Бруевич В.Л., Звягин И.П., Миронов А.Г. | |
dc.date.accessioned | 2016-03-23T23:26:59Z | |
dc.date.available | 2016-03-23T23:26:59Z | |
dc.date.issued | 1972 | |
dc.identifier.isbn | ||
dc.identifier.issn | ||
dc.identifier.uri | http://libarch.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/66991 | |
dc.description.abstract | ||
dc.language.iso | Russian | |
dc.publisher | Наука | |
dc.subject | Техника\\Электроника | |
dc.subject | Technique\\Electronics | |
dc.subject.ddc | ||
dc.subject.lcc | ||
dc.title | Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках | |
dc.type | other | |
dc.identifier.aich | GGGC5SCKFJXNIP63J7IW6JF7DU4HXQL6 | |
dc.identifier.crc32 | 85C4104C | |
dc.identifier.doi | ||
dc.identifier.edonkey | 47E600D5F750937FB92196AA6CA02E3C | |
dc.identifier.googlebookid | ||
dc.identifier.openlibraryid | ||
dc.identifier.udk | ||
dc.identifier.bbk | ||
dc.identifier.libgenid | 17915 | |
dc.identifier.md5 | EF2D0802D8E9F6EFECC4CCD24DE69192 | |
dc.identifier.sha1 | IKOXE6ROQR5454QA6ZRLD3F57GKL72HC | |
dc.identifier.tth | Q44BGG2KU6ANJRDJARHXEOW6AIDBFOC5522YDFI |
Files in questo item
Questo item appare nelle seguenti collezioni
-
Libgen [81666]