dc.contributor.author | Д.Вудраф, Т.Делчар. Перевод с английского Е.Ф.Шека Под редакцией В.И.Раховского. | |
dc.date.accessioned | 2016-03-23T23:41:23Z | |
dc.date.available | 2016-03-23T23:41:23Z | |
dc.date.issued | 1989 | |
dc.identifier.isbn | 0-521-30602-7 | |
dc.identifier.issn | | |
dc.identifier.uri | http://libarch.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/67175 | |
dc.description.abstract | Аннотация издательства: В книге английских ученых излагаются физические основы более двадцати современных методов исследования поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т.д.). Дается сравнение и сопоставление методов друг с другом в зависимости от исследуемой проблемы физики поверхности. Для студентов и аспирантов физических, химических и материаловедческих специальностей, и также для широкого круга исследователей в области физики поверхности. | |
dc.language.iso | Russian | |
dc.publisher | Мир. Редакция литературы по физике и астрономии | |
dc.subject | Физика | |
dc.subject | Physics | |
dc.subject.ddc | 541.3/453 | |
dc.subject.lcc | QC173.4.S94 W66 1986 | |
dc.title | Современные методы исследования поверхности. Научное издание | |
dc.type | other | |
dc.identifier.aich | 32EFVCYGD25L6WUKPE7YUTEM2XPAHYF6 | |
dc.identifier.crc32 | D8A55ED5 | |
dc.identifier.doi | | |
dc.identifier.edonkey | E848010085AB71F9C16A6EF440768196 | |
dc.identifier.googlebookid | | |
dc.identifier.openlibraryid | OL2530373M | |
dc.identifier.udk | | |
dc.identifier.bbk | | |
dc.identifier.libgenid | 49650 | |
dc.identifier.md5 | F249378BD412767C95ECC01D548FB1D9 | |
dc.identifier.sha1 | J5GMCO5SQHYBXQR7DRZXFW5H4CX7N4BD | |
dc.identifier.tth | UG42LBRJJAGMUQFSLUAM746LRHMU4MQ7BIEVD5Y | |