Show simple item record

Контроль качества и надежность микросхем: Учебник для техникумов

dc.contributor.authorГотра 3. Ю., Николаев И. М.
dc.date.accessioned2016-02-22T06:47:34Z
dc.date.available2016-02-22T06:47:34Z
dc.date.issued1989
dc.identifier.isbn5256002570, 9785256002572
dc.identifier.issn
dc.identifier.urihttp://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/48542
dc.description.abstractРассматриваются главные направления теории надежности. Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, при чины и механизмы отказов интегральных микросхем. Определяется место неразрушающего контроля в системе управления качеством. Излагаются методики климатических и механических испытаний, методы контроля качества интегральных микросхем. Рассматриваются вопросы создания автоматизированных систем управления качеством. Для учащихся техникумов по специальности «Производство изделий электронной техники».
dc.language.isoRussian
dc.publisherРадио и связь
dc.subject
dc.subject
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.titleКонтроль качества и надежность микросхем: Учебник для техникумов
dc.typeother
dc.identifier.aichLLYJNT7TIQI7NXBLLADO7C6COU453ZYF
dc.identifier.crc32AA050216
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey2FD2017D243A9612833C4BEDBF60E789
dc.identifier.googlebookid3CsUAAAACAAJ
dc.identifier.openlibraryid
dc.identifier.udk621.396.6.049
dc.identifier.bbk30.14
dc.identifier.libgenid1196068
dc.identifier.md561ce4f2a740ec52e16fe3532a9d1a3c9
dc.identifier.sha16DB33ZS3A3HFGLLLZEB4YB5OLFKQN2NG
dc.identifier.tthYYTHA2HJD5V6MZE446MZZ4OXDMK2HG56XD3YBRQ


Files in this item

Thumbnail
Name:
61ce4f2a740ec52e16fe3532a9d1a3 ...
Size:
5.204Mb
Format:
PDF
View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record