• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • español 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Login
Ver ítem 
  •   DSpace Principal
  • Genofond
  • Libgen
  • Ver ítem
  •   DSpace Principal
  • Genofond
  • Libgen
  • Ver ítem
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Контроль качества и надежность микросхем: Учебник для техникумов

Thumbnail
Ver/
61ce4f2a740ec52e16fe3532a9d1a3c9.pdf (5.204Mb)
Fecha
1989
Autor
Готра 3. Ю., Николаев И. М.
Metadatos
Mostrar el registro completo del ítem
Resumen
Рассматриваются главные направления теории надежности. Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, при чины и механизмы отказов интегральных микросхем. Определяется место неразрушающего контроля в системе управления качеством. Излагаются методики климатических и механических испытаний, методы контроля качества интегральных микросхем. Рассматриваются вопросы создания автоматизированных систем управления качеством. Для учащихся техникумов по специальности «Производство изделий электронной техники».
URI
http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/48542
Colecciones
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contacto | Sugerencias
Theme by 
Atmire NV
 

 

Listar

Todo DSpaceComunidades & ColeccionesPor fecha de publicaciónAutoresTítulosMateriasEsta colecciónPor fecha de publicaciónAutoresTítulosMaterias

Mi cuenta

AccederRegistro

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contacto | Sugerencias
Theme by 
Atmire NV