| dc.contributor.author | Шишкин И.Ф. | |
| dc.date.accessioned | 2016-03-24T07:22:21Z | |
| dc.date.available | 2016-03-24T07:22:21Z | |
| dc.date.issued | 1988 | |
| dc.identifier.isbn | | |
| dc.identifier.issn | | |
| dc.identifier.uri | http://libarch.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/69901 | |
| dc.description.abstract | В учебном пособии с единых позиций рассматриваются измерения физических и нефнзических величин, органолептические измерения и измерения с помощью технических средств. Общим подходом объединены вопросы метрологического обеспечения, законодательной метрологии и стандартизации, квалиметрии, управления качеством и его контроля.
Учебное пособие адресовано учащимся средних специальных учебных заведений. Оно может быть также полезно студентам вузов соответствующих специальностей, работникам метрологических служб, специалистам на производстве, занимающимся измерениями, работникам Государственной приемки.
Табл. ЗА Ил. 82. Бнблиогр. 33. | |
| dc.language.iso | Russian | |
| dc.publisher | Издательство стандартов | |
| dc.subject | Техника\\Метрология | |
| dc.subject | Technique\\Metrology | |
| dc.subject.ddc | | |
| dc.subject.lcc | | |
| dc.title | Основы метрологии стандартизации и контроля качества | |
| dc.type | other | |
| dc.identifier.aich | GC5GXJ4MNC77TYBN35PQ7JVI6FMD5UJ7 | |
| dc.identifier.crc32 | FA08E3BC | |
| dc.identifier.doi | | |
| dc.identifier.edonkey | 710679831A0A323FA7157DDA6009EAD2 | |
| dc.identifier.googlebookid | | |
| dc.identifier.openlibraryid | | |
| dc.identifier.udk | 389.14 -658.16(0751 | |
| dc.identifier.bbk | | |
| dc.identifier.libgenid | 1278540 | |
| dc.identifier.md5 | ad0d542b368ed9f0d584882eb807c0bf | |
| dc.identifier.sha1 | LKJLVDBFBN3PR4CXP6X7RP7RT2ZJZKIE | |
| dc.identifier.tth | VPDRY65QTCWLZJH25JZIKJCGIKZMVS5C5I7NWOI | |
