• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • English 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Login
View Item 
  •   DSpace Home
  • Genofond
  • Libgen
  • View Item
  •   DSpace Home
  • Genofond
  • Libgen
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Основы метрологии стандартизации и контроля качества

Thumbnail
View/Open
ad0d542b368ed9f0d584882eb807c0bf.djvu (11.99Mb)
Date
1988
Author
Шишкин И.Ф.
Metadata
Show full item record
Abstract
В учебном пособии с единых позиций рассматриваются измерения физических и нефнзических величин, органолептические измерения и измерения с помощью технических средств. Общим подходом объединены вопросы метрологического обеспечения, законодательной метрологии и стандартизации, квалиметрии, управления качеством и его контроля. Учебное пособие адресовано учащимся средних специальных учебных заведений. Оно может быть также полезно студентам вузов соответствующих специальностей, работникам метрологических служб, специалистам на производстве, занимающимся измерениями, работникам Государственной приемки. Табл. ЗА Ил. 82. Бнблиогр. 33.
URI
http://libarch.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/69901
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback
Theme by 
Atmire NV
 

 

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjects

My Account

LoginRegister

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback
Theme by 
Atmire NV