• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • italiano 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Login
Mostra Item 
  •   DSpace Home
  • Genofond
  • Libgen
  • Mostra Item
  •   DSpace Home
  • Genofond
  • Libgen
  • Mostra Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Измерения в электронике: справочник

Thumbnail
Mostra/Apri
161ee838618808b003001caea23dd557.djvu (9.302Mb)
Data
1987
Autore
Кузнецов В.А.
Metadata
Mostra tutti i dati dell'item
Abstract
В предлагаемом читателю справочном издании изложены современные методы и средства измерений параметров и характеристик электронных систем с учетом того, что в настоящее время к средствам измерений предъявляются требования по автоматизации процесса измерений, а в ряде случаев и обработки результатов измерений. В последнее время широкое применение получили микропроцессоры, встраиваемые в средства измерений и позволяющие автоматизировать значительное число операций: установку нуля, калибровку, самопроверку, выбор пределов измерений, многократное повторение измерений параметра, обработку результатов измерений с возможностью последующей индикации как среднего значения измеренного параметра, так и погрешности измерения и др.
URI
http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/32838
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contattaci | Manda Feedback
Theme by 
Atmire NV
 

 

Ricerca

Tutto DSpaceArchivi & CollezioniData di pubblicazioneAutoriTitoliSoggettiQuesta CollezioneData di pubblicazioneAutoriTitoliSoggetti

My Account

LoginRegistrazione

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contattaci | Manda Feedback
Theme by 
Atmire NV