• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • українська 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Ввійти
Перегляд матеріалів 
  •   Головна сторінка DSpace
  • Genofond
  • Libgen
  • Перегляд матеріалів
  •   Головна сторінка DSpace
  • Genofond
  • Libgen
  • Перегляд матеріалів
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Теория надежности в области радиоэлектроники. Общие понятия. Отказы. Резервирование. Параметры. Испытания. Терминология.

Thumbnail
Переглянути
60b985e9bce0505f15a6b8dfed092731.djvu (1.140Mb)
Дата
1962
Автор
Ответственный редактор выпуска В.Я.Сифоров.
Metadata
Показати повний опис матеріалу
Короткий опис(реферат)
 
URI
http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/48305
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакти | Зворотній зв'язок
Theme by 
Atmire NV
 

 

Перегляд

Всі матеріалиФонди та колекціїЗа датою публикаціїАвториЗаголовкиТемиКолекціяЗа датою публикаціїАвториЗаголовкиТеми

Мій профіль

ВвійтиЗареєструватися

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакти | Зворотній зв'язок
Theme by 
Atmire NV