• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • English 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Login
View Item 
  •   DSpace Home
  • Genofond
  • Libgen
  • View Item
  •   DSpace Home
  • Genofond
  • Libgen
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Контрольно-измерительная техника

Thumbnail
View/Open
67f232a680bd14b0a6aef8f8bd14c927.djvu (7.430Mb)
Date
1989
Author
Цербст М.
Metadata
Show full item record
Abstract
Систематизированы сведения о современных методах измерения параметров и испытаний полупроводниковых приборов, интегральных микросхем и оптоэлектронных элементов. Рассмотрены перспективные способы определения характеристик изделий электронной техники, в том числе силовых полупроводниковых приборов. Приведены схемы автоматических контрольных устройств и измерительных станций. Для инженерно-технических работников в области электронно-измерительной техники, студентов вузов и широкого круга читателей, интересующихся вопросами качества электронных приборов.
URI
http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/49812
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback
Theme by 
Atmire NV
 

 

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjects

My Account

LoginRegister

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback
Theme by 
Atmire NV