Электронная микроскопия тонких кристаллов

Mostra/ Apri
Data
1968Autore
П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэлан
Metadata
Mostra tutti i dati dell'itemAbstract
В настоящее время электронная микроскопия является одним из основных и высокоэффективных методов экспериментального исследования в физике твердого тела, материаловедении, биологии, химии и т. д., широко применяемым не только в научно-исследовательских институтах и вузах, но
и в промышленных лабораториях.
Данная книга представляет собой фундаментальную энциклопедическую монографию учебного характера, весьма полно освещающую основы теории и экспериментальную практику современной просвечивающей
электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено теориям дифракции электронов и дифракционного
контраста, интерпретации и анализу электронных микрофотографий и мик-
роэлектронограмм реальных кристаллов.
Авторы книги — крупные английские ученые, известные своим большим вкладом в теорию, методику и применения электронной микроскопии
кристаллов.
Книга предназначена для научных работников и инженеров, использующих электронную микроскопию в исследовательских и прикладных целях,
а также для преподавателей и студентов — материаловедов и кристалло-физиков — в качестве дополнительного пособия по электронной микроскопии.
Collections
- Libgen [81666]