Show simple item record

dc.contributor.authorКузнецов В.А.
dc.date.accessioned2016-02-21T16:40:56Z
dc.date.available2016-02-21T16:40:56Z
dc.date.issued1987
dc.identifier.isbn
dc.identifier.issn
dc.identifier.urihttp://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/32838
dc.description.abstractВ предлагаемом читателю справочном издании изложены современные методы и средства измерений параметров и характеристик электронных систем с учетом того, что в настоящее время к средствам измерений предъявляются требования по автоматизации процесса измерений, а в ряде случаев и обработки результатов измерений. В последнее время широкое применение получили микропроцессоры, встраиваемые в средства измерений и позволяющие автоматизировать значительное число операций: установку нуля, калибровку, самопроверку, выбор пределов измерений, многократное повторение измерений параметра, обработку результатов измерений с возможностью последующей индикации как среднего значения измеренного параметра, так и погрешности измерения и др.
dc.language.isoRussian
dc.publisher
dc.subjectТехника\\Электроника
dc.subjectTechnique\\Electronics
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.titleИзмерения в электронике: справочник
dc.typeother
dc.identifier.aichNRK4KKJY2ALULN7EMYJKW4RERPJ7EXAW
dc.identifier.crc324BEB2331
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey0004210BEF213D7482D5FAABFFAB07A7
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryid
dc.identifier.udk
dc.identifier.bbk
dc.identifier.libgenid1982
dc.identifier.md5161EE838618808B003001CAEA23DD557
dc.identifier.sha12YVYZ6IZ7CHAFXAM6GNBPTIXBO7ROVIN
dc.identifier.tthPWC34ZZ6WSIQE4IUW32EZYI4CHMHKH57XMFDRXQ


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record