Основы анализа поверхности и тонких пленок

Открыть

1d9e4236f5f7d414bcc24e3d1a609f45.djvu (3.374Mb)

Дата

1989

Автор

Фелдман Л., Майер Д.

Metadata

Показать полную информацию

Аннотации

URI

http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/33848

Collections

Libgen [81666]