Показать сокращенную информацию
Основы анализа поверхности и тонких пленок
dc.contributor.author | Фелдман Л., Майер Д. | |
dc.date.accessioned | 2016-02-21T17:28:25Z | |
dc.date.available | 2016-02-21T17:28:25Z | |
dc.date.issued | 1989 | |
dc.identifier.isbn | 0-444-00989-2,5-03-001017-3 | |
dc.identifier.issn | ||
dc.identifier.uri | http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/33848 | |
dc.description.abstract | ||
dc.language.iso | Russian | |
dc.publisher | Химия | |
dc.subject | Математика\\Анализ | |
dc.subject | Mathematics\\Analysis | |
dc.subject.ddc | 530.4/1 | |
dc.subject.lcc | QD506 .F39 1986 | |
dc.title | Основы анализа поверхности и тонких пленок | |
dc.type | other | |
dc.identifier.aich | WBG2ZNHKPIQCJYY5WOCXKMJMTPQEA6MI | |
dc.identifier.crc32 | 3FEA62DA | |
dc.identifier.doi | ||
dc.identifier.edonkey | 3AF62C9D8B2E6240FC8956E6EE617AC4 | |
dc.identifier.googlebookid | ||
dc.identifier.openlibraryid | OL2709820M | |
dc.identifier.udk | ||
dc.identifier.bbk | ||
dc.identifier.libgenid | 105585 | |
dc.identifier.md5 | 1D9E4236F5F7D414BCC24E3D1A609F45 | |
dc.identifier.sha1 | SL3ZB2RTKW3QRYJOXROEF7544FQAPFF7 | |
dc.identifier.tth | BM7J65GW6BSPRDZMARQK7H7QY24ITXFO2LOBSWQ |
Файлы в этом документе
Данный элемент включен в следующие коллекции
-
Libgen [81666]