| dc.contributor.author | Готра 3. Ю., Николаев И. М. | |
| dc.date.accessioned | 2016-02-22T06:47:34Z | |
| dc.date.available | 2016-02-22T06:47:34Z | |
| dc.date.issued | 1989 | |
| dc.identifier.isbn | 5256002570, 9785256002572 | |
| dc.identifier.issn | | |
| dc.identifier.uri | http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/48542 | |
| dc.description.abstract | Рассматриваются главные направления теории надежности. Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, при чины и механизмы отказов интегральных микросхем. Определяется место неразрушающего контроля в системе управления качеством. Излагаются методики климатических и механических испытаний, методы контроля качества интегральных микросхем. Рассматриваются вопросы создания автоматизированных систем управления качеством.
Для учащихся техникумов по специальности «Производство изделий электронной техники». | |
| dc.language.iso | Russian | |
| dc.publisher | Радио и связь | |
| dc.subject | | |
| dc.subject | | |
| dc.subject.ddc | | |
| dc.subject.lcc | | |
| dc.title | Контроль качества и надежность микросхем: Учебник для техникумов | |
| dc.type | other | |
| dc.identifier.aich | LLYJNT7TIQI7NXBLLADO7C6COU453ZYF | |
| dc.identifier.crc32 | AA050216 | |
| dc.identifier.doi | | |
| dc.identifier.edonkey | 2FD2017D243A9612833C4BEDBF60E789 | |
| dc.identifier.googlebookid | 3CsUAAAACAAJ | |
| dc.identifier.openlibraryid | | |
| dc.identifier.udk | 621.396.6.049 | |
| dc.identifier.bbk | 30.14 | |
| dc.identifier.libgenid | 1196068 | |
| dc.identifier.md5 | 61ce4f2a740ec52e16fe3532a9d1a3c9 | |
| dc.identifier.sha1 | 6DB33ZS3A3HFGLLLZEB4YB5OLFKQN2NG | |
| dc.identifier.tth | YYTHA2HJD5V6MZE446MZZ4OXDMK2HG56XD3YBRQ | |
