| dc.contributor.author | Цербст М. | |
| dc.date.accessioned | 2016-02-22T07:55:42Z | |
| dc.date.available | 2016-02-22T07:55:42Z | |
| dc.date.issued | 1989 | |
| dc.identifier.isbn | 5-283-02474-1 (рус.),3-540-15878-2 (нем.),0-387-15878-2 (англ.) | |
| dc.identifier.issn | | |
| dc.identifier.uri | http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/49812 | |
| dc.description.abstract | Систематизированы сведения о современных методах измерения параметров и испытаний полупроводниковых приборов, интегральных микросхем и оптоэлектронных элементов. Рассмотрены перспективные способы определения характеристик изделий электронной техники, в том числе силовых полупроводниковых приборов. Приведены схемы автоматических контрольных устройств и измерительных станций.
Для инженерно-технических работников в области электронно-измерительной техники, студентов вузов и широкого круга читателей, интересующихся вопросами качества электронных приборов. | |
| dc.language.iso | Russian | |
| dc.publisher | Энергоатомиздат | |
| dc.subject | Техника | |
| dc.subject | Technique | |
| dc.subject.ddc | | |
| dc.subject.lcc | | |
| dc.title | Контрольно-измерительная техника | |
| dc.type | other | |
| dc.identifier.aich | EO3ZGASFHBDZVK6OODTA7MCHWEA45QMT | |
| dc.identifier.crc32 | B88B610E | |
| dc.identifier.doi | | |
| dc.identifier.edonkey | 6F2A52AEF5176E1BDA1FC1218C201D50 | |
| dc.identifier.googlebookid | | |
| dc.identifier.openlibraryid | | |
| dc.identifier.udk | 681.2 | |
| dc.identifier.bbk | 34.9 | |
| dc.identifier.libgenid | 1259773 | |
| dc.identifier.md5 | 67f232a680bd14b0a6aef8f8bd14c927 | |
| dc.identifier.sha1 | 652WQEBEUMELARRIONFFFGKT3XKNBPGI | |
| dc.identifier.tth | A45FGJ534CGN4I2YL3HVKEWKHHARRJ2UYNCJDZQ | |
