Показать сокращенную информацию

Контрольно-измерительная техника

dc.contributor.authorЦербст М.
dc.date.accessioned2016-02-22T07:55:42Z
dc.date.available2016-02-22T07:55:42Z
dc.date.issued1989
dc.identifier.isbn5-283-02474-1 (рус.),3-540-15878-2 (нем.),0-387-15878-2 (англ.)
dc.identifier.issn
dc.identifier.urihttp://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/49812
dc.description.abstractСистематизированы сведения о современных методах измерения параметров и испытаний полупроводниковых приборов, интегральных микросхем и оптоэлектронных элементов. Рассмотрены перспективные способы определения характеристик изделий электронной техники, в том числе силовых полупроводниковых приборов. Приведены схемы автоматических контрольных устройств и измерительных станций. Для инженерно-технических работников в области электронно-измерительной техники, студентов вузов и широкого круга читателей, интересующихся вопросами качества электронных приборов.
dc.language.isoRussian
dc.publisherЭнергоатомиздат
dc.subjectТехника
dc.subjectTechnique
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.titleКонтрольно-измерительная техника
dc.typeother
dc.identifier.aichEO3ZGASFHBDZVK6OODTA7MCHWEA45QMT
dc.identifier.crc32B88B610E
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey6F2A52AEF5176E1BDA1FC1218C201D50
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryid
dc.identifier.udk681.2
dc.identifier.bbk34.9
dc.identifier.libgenid1259773
dc.identifier.md567f232a680bd14b0a6aef8f8bd14c927
dc.identifier.sha1652WQEBEUMELARRIONFFFGKT3XKNBPGI
dc.identifier.tthA45FGJ534CGN4I2YL3HVKEWKHHARRJ2UYNCJDZQ


Файлы в этом документе

Thumbnail
Имя:
67f232a680bd14b0a6aef8f8bd14c9 ...
Размер:
7.430Mb
Формат:
Unknown
Открыть

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию