Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования РЭА. Производственное издание
![Thumbnail](/bitstream/handle/GenofondUA/76766/deb3727a92831afc72d1d6570e97a646.djvu.jpg?sequence=3&isAllowed=y)
Mostra/ Apri
Data
1987Autore
Н.П.Байда, И.В.Кузьмин, В.Т.Шпилевой.
Metadata
Mostra tutti i dati dell'itemAbstract
Аннотация издательства: Рассмотрены вопросы проектирования и применения микропроцессорных систем тестового поэлементного диагностирования (СПД) и контроля радиоэлектронной аппаратуры и микросборок. Анализируются дефекты и даются рекомендации по их эффективному обнаружению. Изложена методика автоматизированного получения рабочих программ поэлементного диагностирования Приведены конкретные технические решения ряда устройств СПД. Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и эксплуатацией систем контроля и диагностирования.
Collections
- Libgen [81666]