• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • italiano 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Login
Mostra Item 
  •   DSpace Home
  • Genofond
  • Libgen
  • Mostra Item
  •   DSpace Home
  • Genofond
  • Libgen
  • Mostra Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования РЭА. Производственное издание

Thumbnail
Mostra/Apri
deb3727a92831afc72d1d6570e97a646.djvu (3.276Mb)
Data
1987
Autore
Н.П.Байда, И.В.Кузьмин, В.Т.Шпилевой.
Metadata
Mostra tutti i dati dell'item
Abstract
Аннотация издательства: Рассмотрены вопросы проектирования и применения микропроцессорных систем тестового поэлементного диагностирования (СПД) и контроля радиоэлектронной аппаратуры и микросборок. Анализируются дефекты и даются рекомендации по их эффективному обнаружению. Изложена методика автоматизированного получения рабочих программ поэлементного диагностирования Приведены конкретные технические решения ряда устройств СПД. Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и эксплуатацией систем контроля и диагностирования.
URI
http://libarch.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/76766
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contattaci | Manda Feedback
Theme by 
Atmire NV
 

 

Ricerca

Tutto DSpaceArchivi & CollezioniData di pubblicazioneAutoriTitoliSoggettiQuesta CollezioneData di pubblicazioneAutoriTitoliSoggetti

My Account

LoginRegistrazione

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contattaci | Manda Feedback
Theme by 
Atmire NV