Show simple item record

dc.contributor.authorЛитвинский И.Е., Прохоренко В.А., Смирнов А.Н.
dc.date.accessioned2016-02-21T18:04:12Z
dc.date.available2016-02-21T18:04:12Z
dc.date.issued1989
dc.identifier.isbn5-338-00226-4
dc.identifier.issn
dc.identifier.urihttp://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/34605
dc.description.abstractАвторы излагают методы выявления потенциально ненадежных элементов радиоэлектронной аппаратуры микроэлектронного исполнения, приводят эффективные инженерные методики отбраковки ненадежных интегральных микросхем, печатных плат и паяных соединений. Дается описание современных приборов для оперативного контроля радиоэлектронной аппаратуры в условиях производства. Для ИТР, занимающихся разработкой, производством и эксплуатацией радиоэлектронной аппаратуры.
dc.language.isoRussian
dc.publisherБеларусь
dc.subjectТехника
dc.subjectTechnique
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.titleОбеспечение безотказности микроэлектронной радиоаппаратуры на этапе производства
dc.typeother
dc.identifier.aichK5V32YHIMOEFET4TPMFDSQAQOPESHEIK
dc.identifier.crc32E5F6810B
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey143E77BCC93D489735FCA7FF24A44636
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryidOL1962905M
dc.identifier.udk621.396.6.019.3
dc.identifier.bbk32.844.1
dc.identifier.libgenid1258605
dc.identifier.md51e54c9251063708c50ef73c1bcc49208
dc.identifier.sha1H6OEOV7IYKXIIU5BQT3A4PGY6IPFUAMP
dc.identifier.tthGNUBFC3C2K53GGUQVOKSKNSISBD4FTAIQXCXO5Q


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record