• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • русский 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Войти
Просмотр элемента 
  •   Главная
  • Genofond
  • Libgen
  • Просмотр элемента
  •   Главная
  • Genofond
  • Libgen
  • Просмотр элемента
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Обеспечение безотказности микроэлектронной радиоаппаратуры на этапе производства

Thumbnail
Открыть
1e54c9251063708c50ef73c1bcc49208.djvu (3.925Mb)
Дата
1989
Автор
Литвинский И.Е., Прохоренко В.А., Смирнов А.Н.
Metadata
Показать полную информацию
Аннотации
Авторы излагают методы выявления потенциально ненадежных элементов радиоэлектронной аппаратуры микроэлектронного исполнения, приводят эффективные инженерные методики отбраковки ненадежных интегральных микросхем, печатных плат и паяных соединений. Дается описание современных приборов для оперативного контроля радиоэлектронной аппаратуры в условиях производства. Для ИТР, занимающихся разработкой, производством и эксплуатацией радиоэлектронной аппаратуры.
URI
http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/34605
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакты | Отправить отзыв
Theme by 
Atmire NV
 

 

Просмотр

Весь DSpaceСообщества и коллекцииДата публикацииАвторыНазванияТематикаЭта коллекцияДата публикацииАвторыНазванияТематика

Моя учетная запись

ВойтиРегистрация

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакты | Отправить отзыв
Theme by 
Atmire NV