• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • English 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Login
View Item 
  •   DSpace Home
  • Genofond
  • Libgen
  • View Item
  •   DSpace Home
  • Genofond
  • Libgen
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Обеспечение безотказности микроэлектронной радиоаппаратуры на этапе производства

Thumbnail
View/Open
1e54c9251063708c50ef73c1bcc49208.djvu (3.925Mb)
Date
1989
Author
Литвинский И.Е., Прохоренко В.А., Смирнов А.Н.
Metadata
Show full item record
Abstract
Авторы излагают методы выявления потенциально ненадежных элементов радиоэлектронной аппаратуры микроэлектронного исполнения, приводят эффективные инженерные методики отбраковки ненадежных интегральных микросхем, печатных плат и паяных соединений. Дается описание современных приборов для оперативного контроля радиоэлектронной аппаратуры в условиях производства. Для ИТР, занимающихся разработкой, производством и эксплуатацией радиоэлектронной аппаратуры.
URI
http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/34605
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback
Theme by 
Atmire NV
 

 

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjects

My Account

LoginRegister

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback
Theme by 
Atmire NV