Показать сокращенную информацию
Измерения в электронике: справочник
dc.contributor.author | Кузнецов В.А. | |
dc.date.accessioned | 2016-02-21T16:40:56Z | |
dc.date.available | 2016-02-21T16:40:56Z | |
dc.date.issued | 1987 | |
dc.identifier.isbn | ||
dc.identifier.issn | ||
dc.identifier.uri | http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/32838 | |
dc.description.abstract | В предлагаемом читателю справочном издании изложены современные методы и средства измерений параметров и характеристик электронных систем с учетом того, что в настоящее время к средствам измерений предъявляются требования по автоматизации процесса измерений, а в ряде случаев и обработки результатов измерений. В последнее время широкое применение получили микропроцессоры, встраиваемые в средства измерений и позволяющие автоматизировать значительное число операций: установку нуля, калибровку, самопроверку, выбор пределов измерений, многократное повторение измерений параметра, обработку результатов измерений с возможностью последующей индикации как среднего значения измеренного параметра, так и погрешности измерения и др. | |
dc.language.iso | Russian | |
dc.publisher | ||
dc.subject | Техника\\Электроника | |
dc.subject | Technique\\Electronics | |
dc.subject.ddc | ||
dc.subject.lcc | ||
dc.title | Измерения в электронике: справочник | |
dc.type | other | |
dc.identifier.aich | NRK4KKJY2ALULN7EMYJKW4RERPJ7EXAW | |
dc.identifier.crc32 | 4BEB2331 | |
dc.identifier.doi | ||
dc.identifier.edonkey | 0004210BEF213D7482D5FAABFFAB07A7 | |
dc.identifier.googlebookid | ||
dc.identifier.openlibraryid | ||
dc.identifier.udk | ||
dc.identifier.bbk | ||
dc.identifier.libgenid | 1982 | |
dc.identifier.md5 | 161EE838618808B003001CAEA23DD557 | |
dc.identifier.sha1 | 2YVYZ6IZ7CHAFXAM6GNBPTIXBO7ROVIN | |
dc.identifier.tth | PWC34ZZ6WSIQE4IUW32EZYI4CHMHKH57XMFDRXQ |
Файлы в этом документе
Данный элемент включен в следующие коллекции
-
Libgen [81666]