• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • русский 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Войти
Просмотр элемента 
  •   Главная
  • Genofond
  • Libgen
  • Просмотр элемента
  •   Главная
  • Genofond
  • Libgen
  • Просмотр элемента
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Измерения в электронике: справочник

Thumbnail
Открыть
161ee838618808b003001caea23dd557.djvu (9.302Mb)
Дата
1987
Автор
Кузнецов В.А.
Metadata
Показать полную информацию
Аннотации
В предлагаемом читателю справочном издании изложены современные методы и средства измерений параметров и характеристик электронных систем с учетом того, что в настоящее время к средствам измерений предъявляются требования по автоматизации процесса измерений, а в ряде случаев и обработки результатов измерений. В последнее время широкое применение получили микропроцессоры, встраиваемые в средства измерений и позволяющие автоматизировать значительное число операций: установку нуля, калибровку, самопроверку, выбор пределов измерений, многократное повторение измерений параметра, обработку результатов измерений с возможностью последующей индикации как среднего значения измеренного параметра, так и погрешности измерения и др.
URI
http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/32838
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакты | Отправить отзыв
Theme by 
Atmire NV
 

 

Просмотр

Весь DSpaceСообщества и коллекцииДата публикацииАвторыНазванияТематикаЭта коллекцияДата публикацииАвторыНазванияТематика

Моя учетная запись

ВойтиРегистрация

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакты | Отправить отзыв
Theme by 
Atmire NV