Zur Kurzanzeige

Методы анализа поверхностей

dc.contributor.authorЗандерна А. (ред.)
dc.date.accessioned2016-02-21T17:23:23Z
dc.date.available2016-02-21T17:23:23Z
dc.date.issued1979
dc.identifier.isbn
dc.identifier.issn
dc.identifier.urihttp://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/33739
dc.description.abstractКнига написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела. Дается общая классификация этих методов, и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спектроскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия и полевая масс-спектрометрия.Предназначена для широкого круга научных работников - физиков и химиков, металловедов и материаловедов, инженеров и технологов, а также для преподавателей вузов и студентов со┐ответствующих специальностей.
dc.language.isoRussian
dc.publisherМир
dc.subjectМатематика\\Анализ
dc.subjectMathematics\\Analysis
dc.subject.ddc
dc.subject.lcc
dc.titleМетоды анализа поверхностей
dc.typeother
dc.identifier.aichQW6NAFTUNQQ4P55ABDUYM3FWSWCEUQU5
dc.identifier.crc32DC81FB9F
dc.identifier.doi
dc.identifier.edonkey510F8F722DE3A89E573E6823E693A063
dc.identifier.googlebookid
dc.identifier.openlibraryid
dc.identifier.udk
dc.identifier.bbk
dc.identifier.libgenid17939
dc.identifier.md51BD3AA658434CA37FD62C01A8DD16E62
dc.identifier.sha1QXK33TCKEF4CXKXRLSUPCZJ4Y7IAGW47
dc.identifier.tthVS6PM4AJ3XZTOE4QYOQFYJLXS6BATLR5Y4QSMZQ


Dateien zu dieser Ressource

Thumbnail
Name:
1bd3aa658434ca37fd62c01a8dd16e ...
Größe:
7.111Mb
Format:
Unbekannt
Öffnen

Das Dokument erscheint in:

Zur Kurzanzeige