• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • українська 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Ввійти
Перегляд матеріалів 
  •   Головна сторінка DSpace
  • Genofond
  • Libgen
  • Перегляд матеріалів
  •   Головна сторінка DSpace
  • Genofond
  • Libgen
  • Перегляд матеріалів
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Методы анализа поверхностей

Thumbnail
Переглянути
1bd3aa658434ca37fd62c01a8dd16e62.djvu (7.111Mb)
Дата
1979
Автор
Зандерна А. (ред.)
Metadata
Показати повний опис матеріалу
Короткий опис(реферат)
Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела. Дается общая классификация этих методов, и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спектроскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия и полевая масс-спектрометрия.Предназначена для широкого круга научных работников - физиков и химиков, металловедов и материаловедов, инженеров и технологов, а также для преподавателей вузов и студентов со┐ответствующих специальностей.
URI
http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/33739
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакти | Зворотній зв'язок
Theme by 
Atmire NV
 

 

Перегляд

Всі матеріалиФонди та колекціїЗа датою публикаціїАвториЗаголовкиТемиКолекціяЗа датою публикаціїАвториЗаголовкиТеми

Мій профіль

ВвійтиЗареєструватися

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакти | Зворотній зв'язок
Theme by 
Atmire NV