• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • русский 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Войти
Просмотр элемента 
  •   Главная
  • Genofond
  • Libgen
  • Просмотр элемента
  •   Главная
  • Genofond
  • Libgen
  • Просмотр элемента
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Методы анализа поверхностей

Thumbnail
Открыть
1bd3aa658434ca37fd62c01a8dd16e62.djvu (7.111Mb)
Дата
1979
Автор
Зандерна А. (ред.)
Metadata
Показать полную информацию
Аннотации
Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела. Дается общая классификация этих методов, и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спектроскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия и полевая масс-спектрометрия.Предназначена для широкого круга научных работников - физиков и химиков, металловедов и материаловедов, инженеров и технологов, а также для преподавателей вузов и студентов со┐ответствующих специальностей.
URI
http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/33739
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакты | Отправить отзыв
Theme by 
Atmire NV
 

 

Просмотр

Весь DSpaceСообщества и коллекцииДата публикацииАвторыНазванияТематикаЭта коллекцияДата публикацииАвторыНазванияТематика

Моя учетная запись

ВойтиРегистрация

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакты | Отправить отзыв
Theme by 
Atmire NV