• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Deutsch 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Einloggen
Dokumentanzeige 
  •   DSpace Startseite
  • Genofond
  • Libgen
  • Dokumentanzeige
  •   DSpace Startseite
  • Genofond
  • Libgen
  • Dokumentanzeige
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Основы теории статистических измерений

Thumbnail
Öffnen
933649938f36171dc7aeb09f89b4baac.djvu (1.756Mb)
Datum
1986
Autor
Цветков Э. И.
Metadata
Zur Langanzeige
Zusammenfassung
Рассмотрены основы теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Представлены методы определения погрешностей и их характеристик. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Первое издание вышло в 1979 г. Книга рассчитана на специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники.
URI
http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/59017
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Kontakt | Feedback abschicken
Theme by 
Atmire NV
 

 

Stöbern

Gesamter BestandBereiche & SammlungenErscheinungsdatumAutorenTitelnSchlagwortenDiese SammlungErscheinungsdatumAutorenTitelnSchlagworten

Mein Benutzerkonto

EinloggenRegistrieren

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Kontakt | Feedback abschicken
Theme by 
Atmire NV