• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • русский 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Войти
Просмотр элемента 
  •   Главная
  • Genofond
  • Libgen
  • Просмотр элемента
  •   Главная
  • Genofond
  • Libgen
  • Просмотр элемента
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Основы теории статистических измерений

Thumbnail
Открыть
933649938f36171dc7aeb09f89b4baac.djvu (1.756Mb)
Дата
1986
Автор
Цветков Э. И.
Metadata
Показать полную информацию
Аннотации
Рассмотрены основы теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Представлены методы определения погрешностей и их характеристик. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Первое издание вышло в 1979 г. Книга рассчитана на специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники.
URI
http://ir.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/59017
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакты | Отправить отзыв
Theme by 
Atmire NV
 

 

Просмотр

Весь DSpaceСообщества и коллекцииДата публикацииАвторыНазванияТематикаЭта коллекцияДата публикацииАвторыНазванияТематика

Моя учетная запись

ВойтиРегистрация

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакты | Отправить отзыв
Theme by 
Atmire NV