• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • español 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Login
Ver ítem 
  •   DSpace Principal
  • Genofond
  • Libgen
  • Ver ítem
  •   DSpace Principal
  • Genofond
  • Libgen
  • Ver ítem
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Основы метрологии стандартизации и контроля качества

Thumbnail
Ver/
ad0d542b368ed9f0d584882eb807c0bf.djvu (11.99Mb)
Fecha
1988
Autor
Шишкин И.Ф.
Metadatos
Mostrar el registro completo del ítem
Resumen
В учебном пособии с единых позиций рассматриваются измерения физических и нефнзических величин, органолептические измерения и измерения с помощью технических средств. Общим подходом объединены вопросы метрологического обеспечения, законодательной метрологии и стандартизации, квалиметрии, управления качеством и его контроля. Учебное пособие адресовано учащимся средних специальных учебных заведений. Оно может быть также полезно студентам вузов соответствующих специальностей, работникам метрологических служб, специалистам на производстве, занимающимся измерениями, работникам Государственной приемки. Табл. ЗА Ил. 82. Бнблиогр. 33.
URI
http://libarch.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/69901
Colecciones
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contacto | Sugerencias
Theme by 
Atmire NV
 

 

Listar

Todo DSpaceComunidades & ColeccionesPor fecha de publicaciónAutoresTítulosMateriasEsta colecciónPor fecha de publicaciónAutoresTítulosMaterias

Mi cuenta

AccederRegistro

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contacto | Sugerencias
Theme by 
Atmire NV