• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • українська 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Ввійти
Перегляд матеріалів 
  •   Головна сторінка DSpace
  • Genofond
  • Libgen
  • Перегляд матеріалів
  •   Головна сторінка DSpace
  • Genofond
  • Libgen
  • Перегляд матеріалів
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Основы метрологии стандартизации и контроля качества

Thumbnail
Переглянути
ad0d542b368ed9f0d584882eb807c0bf.djvu (11.99Mb)
Дата
1988
Автор
Шишкин И.Ф.
Metadata
Показати повний опис матеріалу
Короткий опис(реферат)
В учебном пособии с единых позиций рассматриваются измерения физических и нефнзических величин, органолептические измерения и измерения с помощью технических средств. Общим подходом объединены вопросы метрологического обеспечения, законодательной метрологии и стандартизации, квалиметрии, управления качеством и его контроля. Учебное пособие адресовано учащимся средних специальных учебных заведений. Оно может быть также полезно студентам вузов соответствующих специальностей, работникам метрологических служб, специалистам на производстве, занимающимся измерениями, работникам Государственной приемки. Табл. ЗА Ил. 82. Бнблиогр. 33.
URI
http://libarch.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/69901
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакти | Зворотній зв'язок
Theme by 
Atmire NV
 

 

Перегляд

Всі матеріалиФонди та колекціїЗа датою публикаціїАвториЗаголовкиТемиКолекціяЗа датою публикаціїАвториЗаголовкиТеми

Мій профіль

ВвійтиЗареєструватися

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Контакти | Зворотній зв'язок
Theme by 
Atmire NV