• русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • italiano 
    • русский
    • українська
    • English
    • Deutsch
    • español
    • italiano
  • Login
Mostra Item 
  •   DSpace Home
  • Genofond
  • Libgen
  • Mostra Item
  •   DSpace Home
  • Genofond
  • Libgen
  • Mostra Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Основы метрологии стандартизации и контроля качества

Thumbnail
Mostra/Apri
ad0d542b368ed9f0d584882eb807c0bf.djvu (11.99Mb)
Data
1988
Autore
Шишкин И.Ф.
Metadata
Mostra tutti i dati dell'item
Abstract
В учебном пособии с единых позиций рассматриваются измерения физических и нефнзических величин, органолептические измерения и измерения с помощью технических средств. Общим подходом объединены вопросы метрологического обеспечения, законодательной метрологии и стандартизации, квалиметрии, управления качеством и его контроля. Учебное пособие адресовано учащимся средних специальных учебных заведений. Оно может быть также полезно студентам вузов соответствующих специальностей, работникам метрологических служб, специалистам на производстве, занимающимся измерениями, работникам Государственной приемки. Табл. ЗА Ил. 82. Бнблиогр. 33.
URI
http://libarch.nmu.org.ua/handle/GenofondUA/69901
Collections
  • Libgen [81666]

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contattaci | Manda Feedback
Theme by 
Atmire NV
 

 

Ricerca

Tutto DSpaceArchivi & CollezioniData di pubblicazioneAutoriTitoliSoggettiQuesta CollezioneData di pubblicazioneAutoriTitoliSoggetti

My Account

LoginRegistrazione

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contattaci | Manda Feedback
Theme by 
Atmire NV